TSB-150F-2P二箱提籃式高低溫沖擊試驗機

低溫槽溫度范圍：A：(-55～-10℃). B：(-65～ -10℃). D：(-80～ -10℃).
　　　實(shí)驗箱沖擊溫度：高溫 +60～150℃低溫 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃) D：( -10～ -65℃)升溫時(shí)間
　　　60~200℃小于35分降溫時(shí)間：A：+20～-55℃小于75分 B：+20～-65℃小于80分 D：+20～-75℃小于90分.
　　　沖擊恢復時(shí)間：高溫(150℃)沖擊30分鐘
　　　低溫(-40℃or-55℃or-65℃)沖擊30分鐘
　　　沖擊恢復時(shí)間：5分鐘以?xún)?/span>
　　　風(fēng)門(mén)開(kāi)啟時(shí)間：3秒以?xún)仍嚇?/span>
　　　重量：1.0Kg 2.5Kg 5Kg 8Kg 10Kg 15Kg

TSB-150F-2P二箱提籃式高低溫沖擊試驗機參照標準

GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法

GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法

GB-T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件

GJB150.3-1986設備環(huán)境試驗方法:高溫試驗

GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求

在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在zui短時(shí)間內 試驗其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，確認產(chǎn)品的品質(zhì).適用的對象包括電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)及國防工業(yè)、航天、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化。

控制系統

主控制器采用進(jìn)口日本"OYO"雙回路高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設定參數、試驗曲線(xiàn)、運行時(shí)間、加熱器工作狀態(tài)，PID參數自整定功能。控制程序的編制采用人機對話(huà)方式，僅需設定溫度，就可實(shí)現制冷機自動(dòng)運行功能。控制系統具備完善的檢測裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細的故障顯示。報警，配置485通訊接口及運行軟件。設定精度:溫度:0.1℃ 時(shí)間:Is用戶(hù)程序容量:10×99段。運行方式:程序運行，恒定運行。獨立超溫保護儀表。設備工作時(shí)間累計計時(shí)器。低溫區、高溫區轉換時(shí)間小于等于15秒。 溫度恢復時(shí)間小于等于5分鐘。